雙面點(diǎn)針探針臺(tái)可用于晶圓和PCB板測試，用于需要正面和背面同時(shí)扎針，以實(shí)現(xiàn)各種光/電性能測試需求。該定制探針臺(tái)具有優(yōu)良的機(jī)械系統(tǒng)，穩(wěn)定的結(jié)構(gòu)，符合人體工程學(xué)，以及多項(xiàng)升級功能?？蓮V泛應(yīng)用于集成電路、Wafer，LED、LCD、太陽能電。產(chǎn)品優(yōu)勢：可同時(shí)完成DC和RF測試大手柄雙驅(qū)動(dòng)，省時(shí)，省力，省心雙光路系統(tǒng)，上光路可升級加載光電流系統(tǒng)。芯片內(nèi)部線路/pad/電級的IV/CV測試l材料/器件的IV/CV性能測試及FAl芯片/面板內(nèi)部線路修改/去層（介質(zhì)絕緣層/鈍化層l可對金屬線路層激光斷線或開路進(jìn)行熔接l激光可選擇性去除特定材料而不損傷下層或基底l激光小加工精度11μml芯片研發(fā)流片驗(yàn)證+失效分析l激光打標(biāo)LaserMarklLasercut、Laserweld、Laserrepaill超快短脈沖激光精細(xì)微加工修復(fù)系統(tǒng)探針臺(tái)廣泛應(yīng)用于科研單位研發(fā)測試、院校教學(xué)操作、企業(yè)實(shí)驗(yàn)室芯片失效分析等領(lǐng)域。CV測試探針臺(tái)系統(tǒng)

無論是芯片設(shè)計(jì)的可靠性驗(yàn)證測試，或是晶圓量產(chǎn)中的WAT測試和CP測試，探針臺(tái)在其中起著至關(guān)重要的作用。探針臺(tái)設(shè)備主要技術(shù)壁壘在系統(tǒng)的精細(xì)定位、微米級運(yùn)動(dòng)以及高準(zhǔn)確率通信等關(guān)鍵參數(shù)。目前全球主要探針臺(tái)市場仍主要被美、日、韓等國所占據(jù)。近年來在國家對半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的大力扶持下，國產(chǎn)化技術(shù)的發(fā)展進(jìn)程不斷加快，中國半導(dǎo)體設(shè)備企業(yè)將加速迎來國產(chǎn)替代的機(jī)會(huì)。在國內(nèi)半導(dǎo)體設(shè)備市場中，探針臺(tái)是我國目前能實(shí)現(xiàn)高國產(chǎn)化率的設(shè)備。高低溫探針臺(tái)規(guī)格手動(dòng)探針臺(tái)的工作原理。

探針臺(tái)應(yīng)用手動(dòng)探針臺(tái)廣泛應(yīng)用于，科研單位研發(fā)測試、院校教學(xué)操作、企業(yè)實(shí)驗(yàn)室芯片失效分析等領(lǐng)域。一般使用于研發(fā)測試階段 ，批量不是很大的情況，大批量的重復(fù)測試推薦使用探卡。主要功能：搭配外接測試測半導(dǎo)體參數(shù)測試儀、示波器、網(wǎng)分等測試源表，量測半導(dǎo)體器件IV CV脈沖/動(dòng)態(tài)IV等參數(shù)。用途：以往如果需要測試電子元器件或系統(tǒng)的基本電性能（如電流、電壓、阻抗等）或工作狀態(tài)，測試人員一般會(huì)采用表筆去點(diǎn)測。隨著電子技術(shù)的不斷發(fā)展，對于精密微?。{米級）的微電子器件（如IC、晶圓、芯片、LCD Array、CMOS Camera Module、Pitch微小的Connector），表筆點(diǎn)到被測位置就顯得無能為力了。于是一種高精度探針座應(yīng)運(yùn)而生,利用高精度微探針將被測原件的內(nèi)部訊號(hào)引導(dǎo)出來，便于其電性測試設(shè)備（不屬于本機(jī)器）對此測試、分析。

桌面探針系統(tǒng)之射頻探針：把傳統(tǒng)探針臺(tái)的體積大、待測物規(guī)格限制等一系列缺點(diǎn)改進(jìn)。我們把探針臺(tái)的兩個(gè)探針臂直接分離出來，使用磁吸開關(guān)固定在配重塊上，裝配我們自行研發(fā)GS/SG/GSG/GSSG和差分間距可調(diào)射頻探針，高頻率40GHz和67GHz（質(zhì)量的阻抗控制50歐±2/100歐±2，探針的pitch可覆蓋150um~1250um的范圍）放在水平的桌面上進(jìn)行使用、測試?？稍谧烂嫔先我饣顒?dòng)，根據(jù)具體測試環(huán)境調(diào)節(jié)。各規(guī)格探針配合67GHz網(wǎng)絡(luò)分析儀進(jìn)行高頻高速的測試。雙面點(diǎn)針探針臺(tái)可用于晶圓和PCB板測試，用于需要正面和背面同時(shí)扎針，以實(shí)現(xiàn)各種光/電性能測試需求。

探針臺(tái)主要被應(yīng)用在半導(dǎo)體、集成電路以及封裝的測試，主要是保證產(chǎn)品的質(zhì)量，且縮短制造成本。按照不同功能，探針臺(tái)可被分為多種類型，如LCD探針臺(tái)、高/低溫探針臺(tái)、RF探針臺(tái)。受益于半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的發(fā)展，探針臺(tái)應(yīng)用需求持續(xù)攀升，行業(yè)發(fā)展前景較好。半導(dǎo)體檢測是半導(dǎo)體生產(chǎn)中關(guān)鍵一環(huán)，在半導(dǎo)體檢測設(shè)備市場結(jié)構(gòu)中，探針臺(tái)占比約為16%。在全球中，受益于智能手機(jī)、人工智能等產(chǎn)業(yè)的快速發(fā)展，半導(dǎo)體需求攀升，半導(dǎo)體測試設(shè)備市場規(guī)模也隨之增長，在2021年達(dá)到76億美元。探針臺(tái)作為重要設(shè)備，受益于半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)發(fā)展，市場需求持續(xù)攀升，市場規(guī)模持續(xù)增長。探針測試臺(tái)x-y工作臺(tái)。成都探針臺(tái)調(diào)試

探針臺(tái)的維護(hù)和保養(yǎng)。CV測試探針臺(tái)系統(tǒng)

光電流測試探針臺(tái)系統(tǒng)是在金相顯微鏡基礎(chǔ)上導(dǎo)入另一路光源，用于輻照樣品以測試樣品在特定波長及能量下的電氣特性等測試目的。l本顯微鏡設(shè)計(jì)為雙光路或3光路，其中一路為導(dǎo)入光通路，另一到兩路為成像光路導(dǎo)入光為平行的激光或其它線性光源，波長范圍200nm~20000nm，中間可加入多個(gè)波片過濾，起偏及偏振角度無級360度調(diào)節(jié)。光斑輻照直徑有650nm紅光指示。l所有模塊均可拉出設(shè)計(jì)，對導(dǎo)入光性質(zhì)無影響。導(dǎo)入光光路可選擇一個(gè)光時(shí)間開關(guān)，精確控制導(dǎo)入光的輻照時(shí)間，精度1ms，范圍2ms~∞，在控制界面上可對各種參數(shù)進(jìn)行詳細(xì)設(shè)置。成像光路為同軸照明金相成像，其中一路為1倍成像，可選擇第2路成像，為物鏡的0.25~10倍率，通常在高低溫測試系統(tǒng)里會(huì)用到，同一個(gè)物鏡不切換，得到兩個(gè)不同視野的成像。CV測試探針臺(tái)系統(tǒng)

上海波銘科學(xué)儀器有限公司成立于2013-06-03年，在此之前我們已在拉曼光譜儀，電動(dòng)位移臺(tái)，激光器，光電探測器行業(yè)中有了多年的生產(chǎn)和服務(wù)經(jīng)驗(yàn)，深受經(jīng)銷商和客戶的好評。我們從一個(gè)名不見經(jīng)傳的小公司，慢慢的適應(yīng)了市場的需求，得到了越來越多的客戶認(rèn)可。公司業(yè)務(wù)不斷豐富，主要經(jīng)營的業(yè)務(wù)包括：拉曼光譜儀，電動(dòng)位移臺(tái)，激光器，光電探測器等多系列產(chǎn)品和服務(wù)。可以根據(jù)客戶需求開發(fā)出多種不同功能的產(chǎn)品，深受客戶的好評。愛特蒙特嚴(yán)格按照行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行生產(chǎn)研發(fā)，產(chǎn)品在按照行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)測試完成后，通過質(zhì)檢部門檢測后推出。我們通過全新的管理模式和周到的服務(wù)，用心服務(wù)于客戶。愛特蒙特秉承著誠信服務(wù)、產(chǎn)品求新的經(jīng)營原則，對于員工素質(zhì)有嚴(yán)格的把控和要求，為拉曼光譜儀，電動(dòng)位移臺(tái)，激光器，光電探測器行業(yè)用戶提供完善的售前和售后服務(wù)。

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